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  • BladeCam2-HR-TEL CMOS基礎型光斑分析儀相機 1480-1605nm

    BladeCam2-HR-TEL CMOS基礎型光斑分析儀相機 1480-1605nm 產品應用 連續激光的光束分析 激光和激光系統的現場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間:2024-12-08
    產品型號:
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  • BladeCam2-HR-1310CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1350nm

    BladeCam2-HR-1310 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1350nm 產品應用 連續激光的光束分析 激光和激光系統的現場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間:2024-12-08
    產品型號:BladeCam2-HR-1310
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  • BeamOn U3-EBladeCam2-HR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm

    BladeCam2-HR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產品應用 連續激光的光束分析 激光和激光系統的現場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間:2024-12-08
    產品型號:BeamOn U3-E
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  • BeamOn U3-E激光光束分析儀 350-1350nm (VIS NIR)

    Duma BeamOn U3-E 激光光束分析儀 350-1350nm (VIS NIR) 產品總覽 BeamOn U3是一種光束測量系統是一種光束測量系統,用于實時測量單束或多束的位置、功率和輪廓。該系統是用于連續或脈沖激光束實時測量的光束診斷測量系統。

    更新時間:2024-12-06
    產品型號:BeamOn U3-E
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  • TaperCamD-LCM.TaperCamD-LCM 大感光面COMS相機型光束質量分析儀 355-1150nm

    TaperCamD-LCM 大感光面COMS相機型光束質量分析儀 355-1150nm 應用領域 連續和脈沖激光的光束分析 激光和激光系統的現場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄

    更新時間:2024-12-06
    產品型號:TaperCamD-LCM.
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